DYNAMIC CHARACTERISTIC
TEST SYSTEM
●生産から開発・評価まで幅広い用途に合わせたラインアップ。
●高圧 ・ 大電流 そして高速化する中であらゆる環境に対応する製品開発を目指しております。
●測定温度-60〜300℃までの環境で評価できるシステムも開発済み。
●SiC、GaN新素材の経験も豊富。
| スイッチングタイムテスター【MOS-FET, IGBT】 | SWR330A |
| スイッチングタイム＆ゲート容量テストシステム 【MOS-FET, IGBT】 |
SWQR550 |
| NEW 半導体動特性評価システム 【TRANSISTOR, MOS-FET, IGBT, DIODE】 |
SWRL1510ZZ |
※【 】内は測定対象デバイス。
※測定器の詳細な仕様、また精密製品や特殊製品に関しましては、
営業技術担当（仙台事務所）までご相談くださいますようお願い致します。
お問合せメールアドレス：cats-sendai@world.ocn.ne.jp
お問合せ電話番号：022-371-8777
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