CHTDV3010ZZ

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  • 著者 cats-manage
  • テストシステム 静特性 テストシステム

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     製品検査・信頼性試験

半導体テストシステム
【MOS-FET, IGBT, THYRISTOR, DIODE, ZENER DIODE】

CHTDV1030Zは、DC測定と熱抵抗測定を一回の測定で行える複合システムです。 測定プログラム上で、自由に測定アイテムを組み合わせることができるため、 デバイスの評価が一層効率的に行えます。

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