半導体テストシステム
【MOS-FET, IGBT, DIODE, THYRISTOR, ZENER DIODE】
本器はMOS-FET、IGBT、ダイオードに加え、サイリスタ、ツェナーダイオードの測定にも対応したDC テストシステムです。外置きのユニットは12 ピンプログラマブルスキャナと大電流源が配置されており、生産設備を考慮したシステム構成となっています。
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※平日9:00~17:00まで受付
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